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    現(xiàn)場

    空調(diào)、WIFI、小零食、用心服務(wù)

    成都現(xiàn)場地址： 成都市武侯區(qū)武科西二路8號2棟1樓

    云現(xiàn)場

    2K高清畫質(zhì)，實時溝通，身臨其境

    FIB儀器介紹

    場發(fā)射掃描電鏡

    儀器名稱：聚焦離子束（FIB）

    型號：Thermo Scientific Helios 5 CX

    主要參數(shù)：

    電子束分辨率0.6nm@15kV，離子束分辨率2.5nm@30kV，樣品臺110mmx65mm，Auto TEM:自動TEM切樣。

    TEM儀器介紹

    場發(fā)射掃描電鏡

    儀器名稱：透射電子顯微鏡（成都）

    型號：TALOS F200S G2

    主要參數(shù)：

    Super-X EDS 系統(tǒng)，配置對稱的SDD能譜探頭 加速電壓 200 kV
    TEM 信息分辨率 0.12 nm
    STEM HAADF 分辨率 0.16 nm

    SEM儀器介紹

    場發(fā)射掃描電鏡

    儀器名稱：場發(fā)射掃描電鏡（成都）

    型號：賽默飛Apreo 2C
    主要參數(shù)：
    放大倍數(shù)30倍～100萬倍；分辨率最低可到1.0nm;
    磁性非磁均可測試

    儀器名稱：場發(fā)射掃描電鏡（北京）

    型號：賽默飛Apreo 2S
    主要參數(shù)：
    放大倍數(shù)30倍～100萬倍；分辨率最低可到1.0nm;
    弱磁非磁均可測試
    能譜儀

    AFM儀器介紹

    場發(fā)射掃描電鏡

    儀器名稱：原子力顯微鏡（AFM）

    型號：Brucker Icon

    主要技術(shù)指標：

    樣品臺尺寸：3.5-105mm
    測量范圍：
    ■ XY方向掃描范圍500nm-90um；
    ■ 正方向掃描范圍2um

    團隊介紹

    李 娟

    李 娟

    從事SEM分析測試6年，多次參與CMA資質(zhì)認證

    王宇婷

    王宇婷

    從事TEM分析測試4年，擅長多種材料的分析測試

    王飛

    王飛

    從事FIB分析測試6年，熟練操作多種型號的FIB設(shè)備

    蒲洪飛

    蒲洪飛

    從事ICP分析測試5年，熟練操作多種型號的ICP設(shè)備

    現(xiàn)場測試流程

    1.溝通預(yù)約

    聯(lián)系技術(shù)經(jīng)理預(yù)約 或直接下單

    溝通預(yù)約

    2.測試下單

    項目：FIB現(xiàn)場/SEM現(xiàn)場/TEM現(xiàn)場

    測試下單

    3.到場測試

    帶上樣品，按照預(yù)約 時間，到現(xiàn)場測試

    到場測試

    4.結(jié)算

    測試完成結(jié)算

    結(jié)算

    云現(xiàn)場測試流程

    1.溝通預(yù)約

    聯(lián)系技術(shù)經(jīng)理預(yù)約 或直接下單

    溝通預(yù)約

    2.測試下單

    項目：FIB云現(xiàn)場/TEM云現(xiàn)場/SEM云現(xiàn)場

    測試下單

    3.樣品送樣

    郵寄寄樣或上門取樣

    樣品送樣

    4.到樣測試

    視頻測試

    到場測試

    5.結(jié)算

    測試完成結(jié)算

    結(jié)算
    樣品要求：
    FIB樣品
    TEM樣品
    SEM樣品
    EBSD樣品
    AFM樣品

    粉末

    樣品5μm及以上尺寸，無磁性；

    薄膜/塊體樣

    最大尺寸2cm，高度3mm，可以有磁性；

    包樣樣品

    加工成品大小小于5μmx5μm；

    其他

    樣品導(dǎo)電性良好，強磁樣品的盡量讓尺寸更小。

    +

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