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    SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)

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    SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)

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    如有各類設(shè)備采購(gòu)需求，請(qǐng)聯(lián)系專屬顧問(wèn)。

    劉豐

    SEM測(cè)試工程師

    3年SEM測(cè)試及管理經(jīng)驗(yàn)。精通場(chǎng)發(fā)射SEM對(duì)材料微結(jié)構(gòu)表征，具備復(fù)合物、電極材料及金屬材料微觀結(jié)構(gòu)的豐富理論和實(shí)操經(jīng)驗(yàn)。主要研究領(lǐng)域包括材料制備、低維納米材料結(jié)構(gòu)表征及其性能測(cè)試。

    項(xiàng)目介紹

    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM），是一種用于高分辨形貌觀察的大型精密儀器。

    SEM具有大景深、高分辨率、成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬，以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。

    另外，它具有可測(cè)樣品種類豐富、幾乎不損傷和污染原始樣品，以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。

    目前，掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。

    SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)溝通，精準(zhǔn)選區(qū)，高效快捷等多功能測(cè)試。為廣大客戶節(jié)省了時(shí)間，也為科研創(chuàng)造了更高的價(jià)值。

    樣品要求

    樣品要求

    1. 樣品大小要求：塊體、片狀、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm，其他尺寸先咨詢；粉末樣品大于10mg；

    2. 塊體、片狀、薄膜樣品請(qǐng)標(biāo)注測(cè)試面；粉末不能測(cè)試線掃；

    3. 含水樣品請(qǐng)自行干燥后送樣；

    4. 請(qǐng)注明照片倍數(shù)；

    5. 制樣方式提前注明；

    6. 其他要求可測(cè)試時(shí)說(shuō)明；

    7. 云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試請(qǐng)當(dāng)面溝通清楚要求，云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試原則上不安排免費(fèi)復(fù)測(cè)；

    8. 送樣前請(qǐng)自行檢測(cè)磁性并如實(shí)告知，由于磁性未說(shuō)明損傷儀器需承擔(dān)維修費(fèi)用；

    9. 最好提前明確參考形貌、放大倍數(shù)，并在訂單中以文字說(shuō)明或附圖；

    10. 能譜說(shuō)明：點(diǎn)掃、線掃、面掃分別按照一個(gè)點(diǎn)、一條線、一個(gè)面掃計(jì)費(fèi)，僅提供一張形貌圖只用于展示測(cè)試位置。多個(gè)能譜按照個(gè)數(shù)計(jì)費(fèi)（按時(shí)間收費(fèi)除外）。

    1-4號(hào)元素不能測(cè)試能譜；BCNOF等超輕元素能譜測(cè)試不準(zhǔn)，望知曉

    現(xiàn)場(chǎng)預(yù)約注意事項(xiàng)

    1. 所有預(yù)約請(qǐng)?jiān)跍y(cè)試狗官網(wǎng)上進(jìn)行下單，里面有可進(jìn)行預(yù)約的時(shí)間段。

    2. 預(yù)約成功后，若因特殊原因無(wú)法到現(xiàn)場(chǎng)或視頻觀看，需要取消測(cè)試時(shí)，請(qǐng)務(wù)必提前一天(24小時(shí))進(jìn)行取消操作，或者聯(lián)系測(cè)試負(fù)責(zé)人進(jìn)行取消。否則，將收取一個(gè)小時(shí)的機(jī)時(shí)費(fèi)。

    3. 按照預(yù)約時(shí)長(zhǎng)收取機(jī)時(shí)費(fèi)。例如您預(yù)約的是9：00-10：00，那從9：00那一刻便會(huì)開(kāi)始計(jì)時(shí)。現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需要提前30min把樣品交給我們，郵寄樣品至少確保我們?cè)跍y(cè)試樣品的前一天能收到，由我們幫您制樣。制樣費(fèi)用正常收取。若到了您的預(yù)約時(shí)間測(cè)試尚未結(jié)束，下個(gè)時(shí)間段若無(wú)人預(yù)約，可繼續(xù)做您的測(cè)試，正常計(jì)時(shí)。若后面有人預(yù)約，需征求對(duì)方同意方可，否則到時(shí)間自動(dòng)停止。

    4. 由我方制樣時(shí)，需要提前告知制樣方法，若不清楚，請(qǐng)?zhí)崆昂蜏y(cè)試負(fù)責(zé)人溝通。如不溝通，不提供，我們將按照我方默認(rèn)方法進(jìn)行制樣，由此因制樣帶來(lái)的測(cè)試問(wèn)題，我們將不承擔(dān)任何責(zé)任。

    5. 測(cè)試中我們主要是根據(jù)您的要求進(jìn)行測(cè)試，所以如果樣品不好，請(qǐng)及時(shí)停止測(cè)試，及時(shí)止損。測(cè)試中的問(wèn)題請(qǐng)及時(shí)現(xiàn)場(chǎng)解決，聯(lián)系測(cè)試負(fù)責(zé)人或工程師。不接受后期長(zhǎng)時(shí)間的反饋。

    6. 請(qǐng)認(rèn)真核實(shí)樣品情況，如樣品的磁性、易氧化性等特性，若因隱瞞樣品情況造成儀器的損壞及全部損失將由您承擔(dān)。

    項(xiàng)目案例

    非磁性材料微球狀形貌

    非磁性材料微球狀形貌

    磁性材料微球狀形貌

    強(qiáng)磁材料高倍20w倍形貌

    磁性材料微球狀形貌

    銅摻雜改性材料面掃圖譜結(jié)果

    銅摻雜改性材料點(diǎn)掃圖譜結(jié)果

    金屬摻雜改性材料線掃圖譜結(jié)果

    常見(jiàn)問(wèn)題
    1、現(xiàn)場(chǎng)的地點(diǎn)在哪里？

    成都實(shí)驗(yàn)室地址：四川省 成都市 武侯區(qū) 武科西二路8號(hào)2棟1樓

    北京實(shí)驗(yàn)室地址：北京市 海淀區(qū) 成府路45號(hào)中關(guān)村智造大街F座

    武漢實(shí)驗(yàn)室地址：湖北省 武漢市 洪山區(qū) 書(shū)城路26號(hào) 洪山科技創(chuàng)業(yè)中心

    2、如何預(yù)約？

    需要先下單，技術(shù)經(jīng)理會(huì)聯(lián)系您預(yù)約測(cè)試時(shí)間。請(qǐng)務(wù)必告訴技術(shù)經(jīng)理樣品個(gè)數(shù)，方便安排測(cè)試時(shí)間點(diǎn)及時(shí)長(zhǎng)。下單預(yù)約時(shí)長(zhǎng)只是參考，收費(fèi)以實(shí)際測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為準(zhǔn)。

    3、噴金與否？

    成都現(xiàn)場(chǎng)主要是噴鉑金，目的是改善樣品的導(dǎo)電性。鉑金比金效果更好，收費(fèi)沒(méi)有差異。導(dǎo)電性不好或者不導(dǎo)電的樣品，請(qǐng)選擇噴金。

    4、現(xiàn)場(chǎng)可以測(cè)磁性樣品嗎？

    可以的。

    5、能譜可以全掃位置元素嗎？

    目前，點(diǎn)掃、線掃和面掃都需要給定元素測(cè)試。特殊的，點(diǎn)掃可以做全掃，而且只能掃含量高的部分元素。

    SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)

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