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X射線衍射儀（XRD）

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X射線衍射儀（XRD）

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馬騁

XRD、UPS、XPS、DLS、GIXRD、2D-WAXD、AFM-IR測試工程師

具有多年XPS、DLS等操作經(jīng)驗。精通XPS技術(shù)在材料表征上的應(yīng)用，尤其在催化、電池材料的峰形處理方面具有豐富經(jīng)驗和實操技能。同時，在DLS樣品制備和濃度效應(yīng)分析上有獨到的理解和實踐經(jīng)驗。

項目介紹

通過對材料進(jìn)行X射線衍射，得到其衍射圖譜，可獲得材料的成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，可用于物相鑒定、粒徑表征、點陣參數(shù)、結(jié)晶度、殘余應(yīng)力、晶體取向及織構(gòu)的測定，具有不損傷樣品、無污染、快捷、高精度、可獲取信息量大等優(yōu)點。

樣品要求

☆請盡量用樣品管盛裝粉末樣，用樣品袋盛裝難以刮下且易損失，可能影響測試效果。

1. 粉末樣至少50mg（如樣品密度偏大，請適量增加），粒度＜200目，手搓無明顯顆粒感，越細(xì)越好；

2. 塊體樣品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以內(nèi)；

3. 塊體/薄膜樣品請注明測試面；

4. 較薄的薄膜/涂層樣品（厚度＜100nm）請慎重選擇廣角XRD；

5. 微區(qū)XRD樣品需標(biāo)記待測點，束斑最小為0.01mm，樣品高度應(yīng)不超過8mm，待測面應(yīng)平整光滑。

項目案例

XRD廣角衍射

2D-XRD德拜環(huán)圖譜

搖擺曲線

倒易空間圖

常見問題
1、粉末樣品量過少會有什么樣的影響？

粉末樣品要鋪滿整個樣品臺，若樣品量過少，可能導(dǎo)致X射線打在樣品臺上，從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。

2、為什么部分樣品的測試結(jié)果中衍射峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰？

樣品的衍射峰強(qiáng)度主要跟自身結(jié)晶度有關(guān)，結(jié)晶度越好，衍射峰越明顯，其次才是樣品量和儀器功率。

3、步長和掃描速度有何關(guān)聯(lián)？掃描速度對樣品的測量有何影響？

步長決定了掃描的精細(xì)程度，掃描速度是由步長和每步的時間決定的，每步的時間長短會影響衍射峰的強(qiáng)度和信噪比。每步的時間越長，步長越小，則譜越精細(xì)，信噪比越高，可用于定量計算，如XRD精修等。

4、XRD定量的精確度如何？

XRD為半定量分析，定量測試結(jié)果精確度有限，僅供參考。

5、Cu靶的波長是多少？

Kα1=1.540538埃。

X射線衍射儀（XRD）

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