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四探針測試儀測量半導體材料電阻率
來源:晶格四探針 時間:2022-10-26 17:48:34 瀏覽:4365次

1. 基本介紹

電阻率的測量是半導體材料常規參數測量項目之一。測量電阻率的方法很多,如三探針法、電容---電壓法、擴展電阻法等。四探針法則是一種廣泛采用的標準方法,在半導體工藝中最為常用。其主要優點在于設備簡單,操作方便,精確度高,對樣品的幾何尺寸無嚴格要求。四探針法除了用來測量半導體材料的電阻率以外,在半導體器件生產中廣泛使用四探針法來測量擴散層薄層電阻,以判斷擴散層質量是否符合設計要求。


2. 四探針發展歷史

1865 年 首次提出四探針測試原理 湯姆森 ;

1920 年 第一次實際應用,測量地球電阻率 Schlunberger ;

1954 年 第一次用于半導體電阻率測試 Valdes;

1980 年代 具有Mapping 技術的四點探針出現;

1999 年 開發出首臺微觀四點探針 Pertersen。


3. 四探針測試原理圖

四根等距探針豎直的排成一排,同時施加適當的壓力使其與被測樣品表面形成歐姆連接,用恒流源給兩個外探針通以小電流 I,精準電壓表測量內側兩探針間電壓 V,根據相應理論公式計算出樣品的薄膜電阻率。


4.四探針測試方法分類

最為常用的測試方法為直線(常規)四探針法和雙電測四探針法。

ST2258C多功能數字式四探針測試儀(常規四探針法選用)


ST2263雙電測數字式四探針測試儀(雙電測法選用)

來源:晶格四探針

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全部 3小時前 四川
文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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