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    原子力顯微鏡（AFM）的工作原理、樣品要求及應用講解
    來源： 時間：2023-10-08 16:42:54 瀏覽：15928次

    原子力顯微鏡（AFM）的工作原理、樣品要求及應用講解



    原子力顯微鏡（AFM，Atomic Force Microscopy）是一種納米級表面形貌和物理性質測量技術，能夠直接觀測納米級別的表面形態、粗糙度、力學性質等。AFM基于量子力學原理，通過檢測原子間的作用力來實現對樣品表面的高分辨率成像。

     

     

     

     

    一、AFM 的工作原理

     

    AFM 主要由掃描隧道顯微鏡（STM）發展而來，其基本原理相似。AFM 通過一個微小的針尖與樣品表面相互作用，以實現高分辨率的表面成像。針尖與樣品之間的相互作用力可以是吸引力或斥力。根據針尖與樣品表面之間的距離和作用力的性質，AFM 主要有三種成像模式：接觸模式、非接觸模式和輕敲模式。

    1.接觸模式：針尖與樣品表面距離較小，利用原子間的斥力。這種模式可以獲得高解析度圖像，但可能導致樣品變形和針尖受損。接觸模式不適合于表面柔軟的材料。

    2.非接觸模式：針尖距離樣品 5-20 納米，利用原子間的吸引力。這種模式不損傷樣品表面，可測試表面柔軟樣品，但分辨率較低，有誤判現象。

    3.輕敲模式：針尖在掃描過程中周期性地接觸和離開樣品表面，以減少表面損傷和提高成像分辨率。

     

    二、AFM的樣品要求

     

    為了保證 AFM 測試的準確性和有效性，在進行 AFM 測試前，需要對樣品進行制備。

    以下是一些常見的樣品制備要求：

    1.樣品表面應干凈、平整和均勻。任何污染物或不均勻的表面都會影響 AFM 測試的精確性和準確性。

    2.樣品必須保持在干燥的環境中。如果樣品表面有水分或其他液體殘留物，則可能會導致測試結果不準確。

    3.對于有機物樣品，應具有足夠的疏水性，以保證平整的表面并防止吸附液污染樣品。

    4.樣品大小一般不超過 1 厘米，高度也應控制在 1 厘米以內。

    5.對于某些特殊樣品，如納米線、納米管等，需要進行特殊處理以保證成像質量。

     

    三、AFM 的應用

     

    AFM 技術在多個領域有廣泛的應用，包括表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸臺階測定、層間絕緣膜的平整度評價、VCD 涂層評價、定向薄膜的摩擦處理過程的評價、缺陷分析等。

    以下是一些具體的應用實例：

    1.表面形貌：AFM 可以用于觀察樣品的表面形貌，如凹凸、納米線、納米孔等。

    2.表面粗糙度：AFM 可以測量樣品表面的粗糙度，以評估其對摩擦、磨損、潤滑等方面的影響。

    3.力學性質：AFM 可以測試樣品的力學性質，如彈性模量、硬度、粘附力等。

    4.生物醫學：AFM 可以用于觀察生物大分子（如蛋白質、DNA、細胞等）的結構和功能。

    5.材料科學：AFM 可以用于研究材料的表面形貌、晶格結構、相界等。

    6.納米技術：AFM 可以用于制備和表征納米結構，如納米線、納米管、納米顆粒等。

     

    AFM 作為一種重要的納米級表征技術，通過對原子間作用力的檢測，實現對樣品表面的高分辨率成像和物理性質測試，AFM 技術在生物學、物理學、材料科學和化學等領域有廣泛應用，為科學研究提供了有力的支持。

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    12條評論
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    全部 3小時前 四川
    文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字，很多小語種，有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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