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推拉力測試儀在半導(dǎo)體封裝與電子組裝中的應(yīng)用

來源：時間：2025-07-01 14:27:49 瀏覽：623次

推拉力測試儀在半導(dǎo)體封裝與電子組裝中的應(yīng)用

在現(xiàn)代電子制造業(yè)的核心地帶，尤其是在精密且對可靠性要求極高的半導(dǎo)體封裝與電子組裝領(lǐng)域，推拉力測試儀扮演著至關(guān)重要的“品質(zhì)判官”角色。這類專用設(shè)備憑借其超高的精度和特定的測試能力，成為確保芯片級連接強度、焊接質(zhì)量和最終產(chǎn)品可靠性的必備工具。

推拉力測試儀

核心測試能力

鍵合線強度拉力測試：這是半導(dǎo)體封裝中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。測試儀精密的測力傳感器配合特制夾具（如鉤針），能精準施加拉力，檢測封裝內(nèi)部用于連接芯片焊盤與封裝引腳的金線、銅線、合金線等細如發(fā)絲的鍵合線的抗拉強度與鍵合牢固度。

焊點/焊球推力測試：通過特制的平推頭或剪切工具，垂直施加推力于焊點或焊球（如金球、銅球、錫球以及表面貼裝貼片元件的焊點），測量其承受推力或剪切力的能力。這直接關(guān)系到焊接工藝的優(yōu)劣和結(jié)構(gòu)完整性。

焊接芯片剪切力測試：設(shè)備通過專門設(shè)計的工具在芯片側(cè)面施加推力（剪切力），測量將焊接芯片（Die）從其基板（Substrate）或框架上剪切剝離所需要的最小力值。這對于功率器件、高可靠性芯片等尤為重要。

測試模式切換：質(zhì)量監(jiān)控的靈活保障

該設(shè)備的一大亮點是其具備破壞性測試與非破壞性測試模式切換能力：

破壞性測試：將樣品測試至失效，獲取連接點的最大強度極限值（如最大拉力、推力、剪切力），用于驗證設(shè)計的魯棒性、評估工藝窗口極限以及制定合格/不合格的破壞性標準。

非破壞性測試：施加預(yù)設(shè)的標準力值或低于破壞閾值的力值進行測試（如鍵合線拉力抽檢），目標是在不損傷鍵合線或焊點的前提下，快速驗證其強度是否達到合格標準。這種模式對于生產(chǎn)線上的過程監(jiān)控和批量產(chǎn)品抽檢至關(guān)重要。

核心應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體IC封裝測試：貫穿前道封裝后測試和后道測試環(huán)節(jié)，對晶圓切割后芯片的鍵合線拉力、焊球推力、倒裝芯片(Flip Chip)凸塊推拉力、芯片剪切力等進行嚴格檢驗，確保芯片內(nèi)部連接和外焊接點的可靠性。符合相關(guān)的JEDEC標準。

LED封裝測試：評估LED芯片（Die）的焊接強度（芯片推力/剪切力）、鍵合線（金線）的拉力強度，保障LED器件在長期使用或極端溫度變化下電氣連接的穩(wěn)定性和抗機械應(yīng)力能力。

光電子器件封裝測試：對激光器、探測器、光纖模塊等光電器件內(nèi)部精密的焊點連接和鍵合線強度進行可靠性驗證，確保器件在高頻、高溫或振動環(huán)境下的性能穩(wěn)定。

PCBA電子組裝測試：在電路板組裝（PCBA）完成后，用于檢驗關(guān)鍵元器件（如BGA/CSP封裝的錫球、QFN/DFN元件的焊盤、大型連接器）的焊接質(zhì)量（推力測試）。可快速識別虛焊、冷焊等缺陷，是提升PCBA成品可靠性的重要手段。

測試對象

鍵合線：金線、銅線、合金線（Ag合金線、CuPd線等）。

焊點/焊球：金球（Wire Bond Pad）、銅柱（Cu Pillar）、錫球（Solder Ball，適用于BGA/CSP封裝推力測試）、各類表面貼裝元件（如電阻、電容、電感、小外形IC）的焊點。

芯片/元器件：裸片（Die）、表面貼裝芯片（SMD）、LED芯片、光電器件芯片等需要進行焊接強度驗證的元器件。

推拉力測試儀在半導(dǎo)體封裝與高端電子組裝領(lǐng)域，已從單純的力學(xué)測量設(shè)備，進化為保障產(chǎn)品壽命、性能與可靠性的“精密探針”。通過對微觀鍵合線和微小焊點進行精準的拉力、推力、剪切力測試，并靈活運用破壞性與非破壞性測試模式，為企業(yè)建立了連接點強度的量化標準，筑起了芯片級電子產(chǎn)品質(zhì)量的核心基石

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