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    亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統(O-PTIR)

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    亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統(O-PTIR)

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    項目介紹

    亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統是一種多模態顯微分析平臺,通過整合紅外光譜(IR)、拉曼光譜和熒光光譜技術,在亞微米尺度(<1 μm)實現樣品的化學、結構和功能表征。其核心原理是利用近場光學技術(如s-SNOM或O-PTIR)突破紅外衍射極限,結合共聚焦拉曼顯微(~300 nm)和超分辨熒光成像(如STED/PALM,分辨率<50 nm),同步或交替獲取分子振動信息(IR/Raman)與特定分子分布(熒光)。系統通過共享光學路徑、時序分離激發和光譜濾波解決信號串擾,最終將多模態數據空間配準,提供官能團分布、分子結構及生物標記物的共定位分析,廣泛應用于材料、生物及納米科技領域。

    樣品要求

    1、常規樣品要求:待測無特征尺寸>500nm,厚度>500nm,無毒,無有機揮發物質

    2、樣品表面平整度要求:單點采譜對平整度無要求,單波數成像一般小于5μm最佳;

    其他具體要求可具體溝通

    項目案例

    半導體失效以及污染測試實例

    O-PTIR檢測玻璃基板(TGV型)上的粘合劑殘留

    微電子器件截面污染物

    底部填充料污染分析

    亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統(O-PTIR)

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