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石英晶體微天平（QCM）

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石英晶體微天平（QCM）

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項目介紹

石英晶體微天平（Quartz Crystal Microbalance，QCM）是一種非常靈敏的質量檢測儀器，其測量精度可達納克級，比靈敏度在微克級的電子微天平高1000 倍，理論上可以測到的質量變化相當于單分子層或原子層的幾分之一。

石英晶體微天平利用了石英晶體的壓電效應，將石英晶體電極表面質量變化轉化為石英晶體振蕩電路輸出電信號的頻率變化，進而通過計算機等其他輔助設備獲得高精度的數據。

它可以提供諸如吸附膜的分子厚度、結構、含水量等信息。此外還可以檢測反應前、進行中和結束后的表面吸附層的變化。耗散因子是指當電路斷開后振蕩的晶體頻率降低到時間快慢。耗散因子可以知道石英晶片表面樣品的剛性與柔性，可用于計算表面粘度與彈性模量（界面流變）。

任何可在傳感器上形成薄膜的物質都可以進行免標記測試，這些物質包括聚合物、金屬和化學改性表面。實時測試系統每秒可提供高達200個數據點。

QSenseTM技術可用于研究

樣品要求

1. 需提足量的測試溶液樣品，最小樣品體積300μL；粉末樣需可以充分溶解；

2. 可通入有機溶劑或無機溶劑液體進行測試；

3. 溶液pH 5~9，溶質質量分數（＜3%）。

項目案例
常見問題
1、QCM技術可以用于研究什么？

答：耗散因子、降解、質量變化、吸附、結構變化、吸脹、水含量相互作用、厚度、交聯等。

2、什么是耗散因子？

答：耗散因子是指當電路斷開后振蕩的浸提頻率降低到0的時間快慢。

石英晶體微天平（QCM）

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