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正電子湮滅壽命譜儀(PAT)

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正電子湮滅壽命譜儀(PAT)

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項目介紹

正電子湮沒技術(Positron Annihilation Technique,PAT),是一項較新的核物理技術,它利用正電子在凝聚物質中的湮沒輻射帶出物質內部的微觀結構、電子動量分布及缺陷狀態等信息,從而提供一種非破壞性的研究手段而備受人們青睞。

目前已經成為研究物質微觀結構、缺陷、疲勞等的新技術與手段。

樣品要求

1.樣品狀態:粉末、塊狀/薄膜樣品(粉末或厚度不夠的薄膜需要壓片);

2.粉末樣品:粉末的樣品量需要能壓成直徑>10mm,厚度>1mm的2個圓片,按體積送樣1-2ml左右;

3.塊狀/薄膜樣品:理想樣品尺寸12×12×2mm;直徑12×2mm(邊長/直徑>10mm,厚度>1mm)。

項目案例
常見問題
1、怎么收費呢?

項目目前為報價模式,根據測試要求和目的報價。

2、正電子淹沒在高分子行業的應用

高分子薄膜研究中,可準確探測高分子薄膜微觀缺陷(自由體積)尺寸、分數、濃度、深度分布,在高分子薄膜微結構與性能關系、表面效應、界面效應等方面發揮積極作用。納米材料中研究晶粒界面結構和界面缺陷分布。

3、測試材料的缺陷,下單需要選什么?

解譜軟件lifetime9.0+常規壽命譜+平均自由體積

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