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納米顆粒跟蹤分析技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)以及主要用途介紹

來源：時(shí)間：2022-12-06 15:23:07 瀏覽：3024次

近年來，納米顆粒跟蹤分析儀（簡稱：NTA）因檢測精度相較于一般動態(tài)光散射儀器更加優(yōu)秀以及測試范圍廣泛的特點(diǎn)，深受科研人員的喜愛。納米顆粒跟蹤分析儀可測信息有：獲得平均粒度、中位數(shù)粒度、粒子濃度、粒子布朗運(yùn)動軌跡等。下面介紹納米顆粒跟蹤分析儀的優(yōu)點(diǎn)以及主要用途。

納米顆粒跟蹤分析儀

顆粒跟蹤分析儀具備的強(qiáng)大功能：它能夠進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)控，通過對觀察到的所有顆粒進(jìn)行分析和計(jì)算，時(shí)間給出樣本粒度的詳細(xì)分布和濃度的具體信息，在應(yīng)用領(lǐng)域上，顆粒跟蹤分析儀不僅局限于生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中，在其他的領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用，如毒理學(xué)研究、材料分子學(xué)研究、納米氣泡、墨水、食品等。

相對于其他傳統(tǒng)技術(shù)，NTA能對懸浮液中粒徑分布范圍較寬的顆粒進(jìn)行全方位表征，并且兼具極高的分辨率，對于粒度較為接近的顆粒仍然可以準(zhǔn)確分析，特別是在生物樣品中，顆粒分布呈現(xiàn)極不均勻的寬分布狀態(tài)。一些粒徑小、數(shù)量少的顆粒在分析中很容易被傳統(tǒng)測量方法忽略，納米顆粒跟蹤分析儀所提供的定量分布粒徑測試解決了這一問題。此外，獨(dú)特的濃度測量技術(shù)直接為外顯體的研究人員提供可靠的外顯體濃度數(shù)據(jù)。

在操作方面，顆粒跟蹤分析儀大大降低了測試所需的時(shí)間和樣本量。通常，大型儀器(如流式細(xì)胞儀)在使用前都需要進(jìn)行復(fù)雜的預(yù)熱和校準(zhǔn)準(zhǔn)備。由于顆粒跟蹤分析儀采用的是一個(gè)無需預(yù)先知道質(zhì)量、折光度和顆粒材料的流體力學(xué)直徑測量技術(shù)，儀器可跳過繁瑣的標(biāo)樣校準(zhǔn)直接進(jìn)入研究分析，對許多客戶來說，這不光節(jié)約了大量的時(shí)間，加速推進(jìn)整個(gè)科研進(jìn)程，還為他們節(jié)省了寶貴的人力成本。

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