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四探針測試儀

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四探針測試儀

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項目介紹

四探針法基于基爾霍夫電流定律(KCL)和基爾霍夫電壓定律(KVL)進行測量。在進行四探針法測試時,首先需要在被測器件的四個端口上分別連接四個探針,形成一個閉合的四端口網絡。然后,通過測量四個端口的電流和電壓,可以得到被測器件的電阻參數。

1、固體導體的電阻率可以通過歐姆定律和電阻定律測量;

2、測試得到的電阻可以通過換算得到電導率;

3、電導和電阻的關系,如果R是電阻(單位歐姆Ω),電導為G(單位西門子S),則:G = 1/R;

4、電阻=方阻x膜厚;

樣品要求

1.粉末樣品需壓片測試,質量大于50mg 或者體積大于2-3ml;

2.薄膜,提供準確膜厚,厚度均勻;

3.塊體上下平行,最好拋光處理;

4.常溫樣品尺寸直徑或者長度最少10mm;

5.變溫樣品尺寸小于10x10mm厚度大于0.3mm小于2mm

6.表面整潔,不污染探針;

注:粉末壓片會影響測試結果,不支持免費復測,支持壓片后送樣。

項目案例

常見問題
1、測試的是表面電阻還是體積電阻?

表面電阻。

2、能得到電導率嗎?

可以,G=1/R。

四探針測試儀

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